তুলনামূলক এবং প্রুফ ট্র্যাকিং সূচকগুলি পরীক্ষার যন্ত্রপাতি সিটিআই পিটিআই 600 ভি

তুলনামূলক এবং প্রুফ ট্র্যাকিং সূচকগুলি পরীক্ষার মেশিন সিটিআই এবং পিটিআই 0-600 ভোল্টেজ সহ

মানক:

আইসি 60112-2009 প্রমাণ নির্ধারণের জন্য পদ্ধতি এবং কঠিন অন্তরক উপকরণগুলির তুলনামূলক ট্র্যাকিং সূচকগুলি।

প্রয়োগ:

এটি সরঞ্জামের অংশ থেকে নেওয়া টুকরা এবং বিকল্প ভোল্টেজ ব্যবহার করে উপাদানগুলির ফলকগুলিতে কঠিন অন্তরক পদার্থগুলির প্রমাণ এবং তুলনামূলক ট্র্যাকিং সূচকগুলি নির্ধারণের জন্য পরীক্ষার জন্য ব্যবহৃত হয়।দাহ্যতা পরীক্ষার সরঞ্জাম

নীতি:

পরীক্ষার নমুনার উপরের পৃষ্ঠটি প্রায় অনুভূমিক সমতলে সমর্থিত এবং দুটি ইলেক্ট্রোডের মাধ্যমে বৈদ্যুতিক স্ট্রেসের শিকার হয়।ওভার-কারেন্ট ডিভাইসটি চালিত না হওয়া পর্যন্ত, বা অবিচ্ছিন্ন শিখা না আসা পর্যন্ত বা পরীক্ষার সময় অতিবাহিত না হওয়া অবধি বৈদ্যুতিনগুলির মধ্যবর্তী পৃষ্ঠটি ইলেক্ট্রোলাইটের ফোঁটার ধারাবাহিকতায় জড়িত থাকে।

পৃথক পরীক্ষাগুলি সংক্ষিপ্ত সময়ের (1 জ এরও কম) হ'ল প্রায় 20 মিলিগ্রাম ইলেক্ট্রোলাইটের 50 বা 100 টি ড্রপ দিয়ে প্ল্যাটিনাম ইলেক্ট্রোডের মধ্যে 30 s বিরতিতে পড়ে, পরীক্ষার নমুনার পৃষ্ঠের 4 মিমি দূরে থাকে।

পরীক্ষার সময় ইলেক্ট্রোডগুলিতে 1 00 ভি এবং 600 ভি এর মধ্যে একটি এসি ভোল্টেজ প্রয়োগ করা হয়।

পরীক্ষার সময়, নমুনাগুলি ক্ষয় বা নরম হতে পারে, যার ফলে ইলেক্ট্রোডগুলি তাদের প্রবেশ করতে দেয়।পরীক্ষার সময় পরীক্ষার নমুনার মাধ্যমে একটি গর্ত গঠনের গর্তের গভীরতার (পরীক্ষার নমুনার বেধ) একসাথে প্রতিবেদন করতে হয়।সর্বাধিক 10 মিমি অবধি ঘন পরীক্ষার নমুনাগুলি ব্যবহার করে পুনরায় তৈরি করা যেতে পারে।

পরামিতি: